МОСКОВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ)   
  Главная страница  |  Информация  |  Доклады  |  Дискуссии  |  Регистрация  |  Координаты | Архив
>>>Каталог докладов

Секция "Микро- и наноэлектроника"
НАПРАВЛЕНИЕ "НАНОФИЗИКА И НАНОТЕХНОЛОГИИ"

МЕТОДИКА ХАРАКТЕРИЗАЦИИ ЗАКАЗНЫХ БЛОКОВ КМОП ОЗУ С ПОВЫШЕННОЙ СБОЕУСТОЙЧИВОСТЬЮ
Автор доклада:ЧЕРКАСОВ И.Г. , аспирант (Московский инженерно-физический институт (государственный университет))
Научный руководитель:СТЕНИН В.Я., д.т.н., профессор
Оригинальный документ Обсудить докладПослать e-mail авторуВ виде HTML-страницы
Дискуссия еще не открыта

Пользователь: Гость
Администрирование
© Разработка - ЦНИТ МИФИ
© Оформление А. Седов, К. Андреенко По всем техническим вопросам обращаться по адресу kit-new@newmail.ru